4" Vakuum Elektronmikroskop SEM Sensor - N-typ P-typ Infraröd Strålning
Detta är en 4-tums kisel-sensor designad för användning i vakuum elektronmikroskopi (SEM).
Den är klassificerad som N-typ och P-typ, vilket indikerar dess specifika halvledaregenskaper.
Sensorn används för coating-test och detektering av infraröd strålning i vakuummiljöer, vilket gör den till en väsentlig komponent för detaljerade vetenskapliga analyser.
Sensorn är konstruerad av kisel, vilket garanterar hållbarhet och precision.
Dess N-typ och P-typ klassificering gör den mångsidig för olika testapplikationer.
En diameter på 4 tum är en vanlig standard för elektronmikroskopkomponenter.
Denna sensor används i vakuum elektronmikroskop (SEM) för coating-test och detektering av infraröd strålning.
Sensorn är tillverkad av kisel och har N-typ och P-typ klassificering, vilket indikerar dess halvledaregenskaper.
Sensorn har en diameter på 4 tum, vilket är en standardstorlek för SEM-komponenter.